微区扫描电化学工作站的功能都有哪些呢？接下来小编带你一起来探讨一下!
微区扫描电化学是一个建立在电化学扫描探针的设计基础上的，进行超高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。微区扫描电化学是提供给电化学及材料测试以高空间分辨率的一个测试平台。
材料腐蚀的电化学测试方法局限于整个样品的宏观测试, 测试结果只反映样品的不同局部位置的整体统计结果,不能反映出局部的腐蚀及材料与环境的作用机理.为进行局部表面科学研究,微区扫描系统提供了一个新的途径,并日益得到包括局部腐蚀领域的广泛应用。近年来，人们一直在探索局部电化学过程的研究。*代扫描参比电极技术（SRET）能探测局部腐蚀的发生。第二代扫描振动电极技术（SVET）采用振动电极测量局部 （电流，电位〕随远离被测电极表面位置的变化。 SVET具有比SRET更高的灵敏度。在SVET和SVET基础上，又提出了采用扫描Kelvin振动电极（SKP）测量不同材料表面功函数。
SVET工作原理
扫描振动参比电极系统是利用振动电极和锁相放大器消除微区扫描中的噪声干扰,提高测量精度. SVET系统具有高灵敏度,非破坏性,可进行电化学活性测量的特点.它可进行线性或面扫描,研究局部腐蚀（如电蚀和应力腐蚀的产生,发展等）,表面涂层及缓蚀剂的评价等方面的研究,扫描振动探针（SVET）是在液态腐蚀环境下,进行腐蚀研究的有力工具,它能检测小于5uA/cm2的原位腐蚀。
SKP工作原理
SKP扫描开尔文探针系统为表面科学测量提供了一个新的途径，开尔文探针是一种无接触，无破坏性的仪器，可以用于测量导电的、半导电的，或涂覆的材料与试样探针之间的功函差。 这种技术是用一个振动电容探针来工作的，通过调节一个外加的前级电压可以测量出样品表面和扫描探针的参比针尖之间的功函差。 功函和表面状况有直接关系的理论的完善使SKP成为一种很有价值的仪器，它能在潮湿甚至气态环境中进行测量的能力使原先不可能的研究变为现实。
微区扫描探针平台系统主要技术参数：
1. 扫描范围（X、Y、Z）：100mm×100mm×100mm
2. 扫描驱动分辨率：8nm
3. 位移偏码：线性，零滞后
4. 位移：闭环定位
5. 线性位移编码分辨率：50nm
6. 重复性：250nm
7. 抗震光学平台采用蜂巢状的内部设计和硬质钢表面
8. 计算机通讯方式：USB接口; 仪器与仪器之间以以太网连接
9. 控制与分析软件：随机提供软件预装的高性能笔记本电脑。单一软件平台控制所有多种扫描探针技术；内嵌3D数据旋转视图功能，提高图形的展现力；结果可以图像或表格形式输出，用于导入至其它分析或报告软件
10. 大样品池：VersaScan L池（选配件）
11. SECM电化学微池：VersaScan mL池 （选配件）
12. 样品观察系统：VersaCAM，含相机、镜头、显示屏（选配件）
13. 微区技术：SECM、SVET、SKP、LEIS、SDC、OSP（可选配）
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