IPCE量子效率的优势分析

IPCE量子效率用于测量、分析光电探测器、CMOS，CCD等器件的微小局部特性，由于CMOS单位画素尺寸小于50微米，无法以一般的白光光源聚焦到微米等级的光斑，须采用激光光源方能聚焦到微米等级后，因此需要激光光束引致电流扫描图谱仪，测量微小器件的居部特性。

　　激光光束引致电流扫描图谱仪为精密的光电转换IPCE量子效率装置，用于检测光电探测器、CCD、CMOS器件的转换效率、均匀度，光谱响应， IPCE量子效率等特性。其组成为激光源、聚焦光路集成系统、精密电动扫描平台、光电流讯号量测系统、控制分析系统及软件等五大部分.IPCE量子效率是一种测量量子效率（量子产额）的装置。将试料放置在固定治具上之后, 按照专业软件的指示操作，可以在短时间内完成试料的测量及解析。

　　IPCE量子效率专注于简单操作, IPCE量子效率使用软件，操作简单,节省空间，设计简洁,使用分光器类型的激发光源，可以选择任意波长,IPCE量子效率可以在软件上设定激发光源的波长及步值，实现自动测量。

　　IPCE量子效率专注于高精度测量:

　　.可以瞬间测得量子效率（量子产额）；

　　.可以除去激发荧光发光光谱；

　　.采用积分半球系统，IPCE量子效率实现高亮度测量；

　　.采用低杂光多频分光检出器，大幅度减少紫外域的杂光。